accessibility menu, dialog, popup

UserName

Kontraktlaboratorieprogramstandarder

Contract Laboratory Program (CLP) standarder egnet til brug som referencematerialer.
Opløsningsmiddel eller Matrix 
  • (1)
  • (7)
  • (1)
  • (1)
  • (7)
Teknik 
  • (17)
Grad 
  • (4)
Molekylvægt (g/mol) 
  • (1)
  • (1)
Keyword Search: elemental analysis Ryd alle valg

Filtrerede søgeresultater

Produkter fra nogle af vores leverandører vises ikke i filtrerede søgeresultater. ryd alle filtre for at se disse produkter.

Snævre resultater

Valgte filtre

Ryd alle

Keyword Search

elemental analysis

Snævre resultater

Snævre resultater

Ingen resultater fundet inden for denne kategori. Prøv at fjerne nogle valgte filtre, og prøv igen.

Kategori

Brands

  • (17)

Opløsningsmiddel eller Matrix

  • (1)
  • (7)
  • (1)
  • (1)
  • (7)

Teknik

  • (17)

Grad

  • (4)

Molekylvægt (g/mol)

  • (1)
  • (1)
1 – 15 af 16 Resultater
1

Spike Sample Analysis Standard I for CLP, SPEX CertiPrep™

ISO/IEC Guide 34 Certificeret, NIST-sporbart Certificeret referencemateriale

Koncentration eller sammensætning (efter analyt eller komponenter) Components in 5% HNO3/tr Tartaric Acid/tr HF:
Al    •200μg/mL
Sb    •50μg/mL
As    •200μg/mL
Ba    •200μg/mL
Be    •5μg/mL
Cd    •5μg/mL
Cr    •20μg/mL
Co    •50μg/mL
Cu    •25μg/mL
Fe    •100μg/mL
Pb    •50μg/mL
Mn    •50μg/mL
Ni    •50μg/mL
Se    •200μg/mL
Ag    •5μg/mL
Tl    •200μg/mL
V    •50μg/mL
Zn    •50μg/mL
Kemisk navn eller materiale ICP Spike Sample 1
Type Certified Reference Material
Til brug med (udstyr) AA, ICP, ICP/MS, IC, XRF, and Other Analytical Instrumentation
Anbefalet opbevaring Stuetemperatur
Opløsningsmiddel eller Matrix Nitric Acid/Trace Tartaric Acid/Trace Hydrogen Fluoride
Sundhedsfare 1 Causes skin irritation, serious eye irritation
DOT information Hazardous
Emballage Triple-udvasket LDPE flaske
Koncentration eller sammensætningsnoter Up to 68 elements are scanned with found values for ICP and ICP-MS standards. The found value of the trace metallic impurities is reported on the Certificate of Analysis.
Teknik GC-MS
2

Spike Sample Analysis Standard 2 (Jord) For ICP/MS, SPEX CertiPrep™

ISO/IEC Guide 34 Certificeret, NIST-sporbart Certificeret referencemateriale

3

Spike Sample Analysis Standard 1 (Vand) For ICP/MS, SPEX CertiPrep™

ISO/IEC Guide 34 Certificeret, NIST-sporbart Certificeret referencemateriale

5

Alternative interferenter A for CLP, SPEX CertiPrep™

ISO/IEC Guide 34 Certificeret, NIST-sporbart Certificeret referencemateriale

6

Instrumentkalibreringsstandard 4A til CLP, SPEX CertiPrep™

ISO/IEC Guide 34 Certificeret, NIST-sporbart Certificeret referencemateriale

8

Instrumentkalibreringsstandard 2 For CLP, SPEX CertiPrep™

ISO/IEC Guide 34 Certificeret, NIST-sporbart Certificeret referencemateriale

9

Instrumentkalibreringsstandard 3 For CLP, SPEX CertiPrep™

ISO/IEC Guide 34 Certificeret, NIST-sporbart Certificeret referencemateriale

10

Interferenter A For ICP/MS, SPEX CertiPrep™

ISO/IEC Guide 34 Certificeret, NIST-sporbart Certificeret referencemateriale

11

Analytter B for CLP, SPEX CertiPrep™

ISO/IEC Guide 34 Certificeret, NIST-sporbart Certificeret referencemateriale

12

Analytter B til ICP/MS, SPEX CertiPrep™

ISO/IEC Guide 34 Certificeret, NIST-sporbart Certificeret referencemateriale

13

Alternative analytter B til CLP, SPEX CertiPrep™

ISO/IEC Guide 34 Certificeret, NIST-sporbart Certificeret referencemateriale

14

ICP Kontrakt påkrævede detektionsgrænser (CRDL) Standard 1, SPEX CertiPrep™

ISO/IEC Guide 34 Certificeret, NIST-sporbart Certificeret referencemateriale

15

Interferenter A For CLP, SPEX CertiPrep™

ISO/IEC Guide 34 Certificeret, NIST-sporbart Certificeret referencemateriale